验证批无异常，后续包衣过程片芯表面出现明显的坑

456syl

如题，验证批包衣过程很顺利，一致性评价内包部分发补，再验证的时候连续3批都出现同样的包衣片芯表面出坑，废片，前后核对参数均无异常都在范围内，环境因素排除温湿度均正常，人员同一个熟练操作工，原辅料都是同一供应商全检的，设备对喷枪进行了确认，研发和包衣公司都找不到原因，包衣厂商建议调高包衣液浓度。在找不同的过程中唯一发现问题就没有片厚，调查过程中说是原先有，之前验证过程中有一个数据超标，删除了；请教论坛各位大神，片厚对包衣有影响么？

ALEXDS

辅料中是否有硬脂酸这类低熔点辅料，如有，考虑混合均匀度问题。